德國(guó)EPK MiniTest2100涂鍍層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介:

德國(guó)EPK（Elektrophysik）公司
涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

德國(guó)EPK MiniTest2100涂鍍層測(cè)厚儀技術(shù)特征：

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率半徑
（凸/凹）

zui小測(cè)量
區(qū)域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸

磁
感
應(yīng)
法

F05

0-500μm

0.1μm

±（1%±0.7μm）

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±（1%±10μm）

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±（1%±10μm）

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±（3%±50μm）

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm

兩
用

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

電
渦
流
法

N02

0-200μm

0.1μm

±（1%±0.5μm）

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±（1%±1μm）

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±（1%±1μm）

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±（1%±1μm）

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±（1%±25μm）

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±（1%±50μm）

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±（1%±0.3mm）

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±（1%±1μm）

平面

7mm

無限制

φ17x80mm